超聲波探傷試塊探頭的種類和結(jié)構(gòu)很多，比如探頭用于發(fā)射和接收縱波，主要用于探測(cè)與探測(cè)面平行的缺陷，如板材、鍛件探傷等。斜探頭可分為縱波斜探頭、橫波斜探頭和表面波斜探頭，常用的是橫波斜探頭。橫波斜探頭主要用于探測(cè)與探測(cè)面垂直或成一定角度的缺陷，如焊縫、汽輪機(jī)葉輪等。當(dāng)斜探頭的入射角大于或等于第二臨界角時(shí)，在工件中產(chǎn)生表面波，表面波探頭用于探測(cè)表面或近表面缺陷。雙晶探頭有兩塊壓電晶片，一塊用于發(fā)射超聲波，另一塊用于接收超聲波。根據(jù)入射角不同，分為雙晶縱波探頭和雙晶橫波探頭。

　　按一定用途設(shè)計(jì)制作的具有簡(jiǎn)單幾何形狀人工反射體的試樣，通常稱為超聲波探傷試塊。超聲波探傷試塊和儀器、探頭一樣，是超聲波探傷中的重要工具。
                                  

　　1．超聲波探傷試塊的作用

　?。?）確定探傷靈敏度

　　超聲波探傷試塊靈敏度太高或太低都不好，太高雜波多，判傷困難，太低會(huì)引起漏檢。因此在超聲波探傷前，常用試塊上某一特定的人工反射體來(lái)調(diào)整探傷靈敏度。

　?。?）測(cè)試探頭的性能

　　超聲波探傷試塊和探頭的一些重要性能，如放大線性、水平線性、動(dòng)態(tài)范圍、靈敏度余量、分辨力、盲區(qū)、探頭的入射點(diǎn)、K值等都是利用試塊來(lái)測(cè)試的。

　?。?）調(diào)整掃描速度

　　利用超聲波探傷試塊可以調(diào)整儀器屏幕上水平刻度值與實(shí)際聲程之間的比例關(guān)系，即掃描速度，以便對(duì)缺陷進(jìn)行定位。

　?。?）評(píng)判缺陷的大小

　　超聲波探傷試塊適用于無(wú)縫管、焊管等金屬管、棒、線材的在線、離線探傷，可用于其他機(jī)械零部件的自動(dòng)探傷。

　　超聲波探傷試塊具有二個(gè)相對(duì)獨(dú)立的測(cè)試通道，可分別驅(qū)動(dòng)二只不同形式的檢測(cè)探頭，或由和差動(dòng)線圈構(gòu)成的組合式探頭，超聲波探傷試塊兩個(gè)檢測(cè)通道同時(shí)進(jìn)行數(shù)據(jù)采集，用于檢出金屬管、棒生產(chǎn)中出現(xiàn)的縱向裂紋和橫向缺陷。

　　按缺陷顯示方式分類，超聲波探傷試塊分為三種。

　　A型：A型顯示是一種波形顯示，探傷儀的屏幕的橫坐標(biāo)代表聲波的傳播距離，縱坐標(biāo)代表反射波的幅度。由反射波的位置可以確定缺陷位置，由反射波的幅度可以估算缺陷大小。

　　B型：B型顯示是一種圖象顯示，屏幕的橫坐標(biāo)代表探頭的掃查軌跡，縱坐標(biāo)代表聲波的傳播距離，超聲波探傷試塊因而可直觀地顯示出被探工件任一縱截面上缺陷的分布及缺陷的深度。

　　C型：C型顯示也是一種圖象顯示，屏幕的橫坐標(biāo)和縱坐標(biāo)都代表探頭在工件表面的位置，探頭接收信號(hào)幅度以光點(diǎn)輝度表示，因而當(dāng)超聲波探傷試塊探頭在工件表面移動(dòng)時(shí)，屏上顯示出被探工件內(nèi)部缺陷的平面圖象，但不能顯示缺陷的深度。

　　目前，探傷中廣泛使用的超聲波探傷試塊都是A型顯示脈沖反射式探傷儀。

　　超聲波探傷試塊用于焊管在、離線檢測(cè)時(shí)，對(duì)未熔焊、暗逢、開(kāi)口裂紋等軸向缺陷具有很高的靈敏度，對(duì)生產(chǎn)過(guò)程中，因焊機(jī)故障而造成產(chǎn)品的緩變傷、長(zhǎng)道傷均能可靠檢出。超聲波探傷試塊兩個(gè)檢測(cè)通道獲取的信號(hào)可分別以阻抗平面圖和時(shí)基掃描圖實(shí)時(shí)顯示于屏幕。利用某些超聲波探傷試塊繪出的距離-波幅-當(dāng)量曲線來(lái)對(duì)缺陷定量是目前常用的定量方法之一。特別是3N以內(nèi)的缺陷，采用超聲波探傷試塊比較法仍然是zui有效的定量方法。此外還可利用試塊來(lái)測(cè)量材料的聲速、衰減性能等。